在半导体器件领域,PN 结二极管的反向击穿特性至关重要。于常规状态下的反向偏置 PN 结,仅有微小漏电流,其值基本恒定。一旦反向电压逾越特定阈值,PN 结便突兀开启大电流导通模式(参考图 1),此即反向击穿现象。若无外力限流,极有可能损毁器件。


图 1.PN 结二极管反向击穿示意
反向击穿通常界定固态器件最大工作电压。但经恰当限流措施后,反向击穿的 PN 结可变身稳定电压参考源。
一、反向击穿机制剖析
雪崩倍增 :反向偏置 PN 结时,耗尽区随偏置升高而拓宽,不过电场强化 pace 更快。强劲电场加速载流子,使其高速穿越耗尽区,撞击晶格原子,释放价电子,催生新载流子。一载流子可撞出成千上万新载流子,形似滚雪球成雪崩,故名雪崩倍增。
隧道效应 :此为量子机制过程,载流子借助量子隧穿,无视障碍,短距离迁移。当耗尽区薄至临界值,载流子能隧穿跃过。隧道电流受耗尽区宽度、结电压差主宰,由此引发的反向击穿称齐纳击穿。
二、击穿电压影响要素
结反向击穿电压与耗尽区宽度紧密相连,耗尽区越宽,击穿电压越高。轻掺杂致使耗尽区宽阔,击穿电压攀升。击穿电压低于 5 伏,齐纳击穿主导;高于 5 伏,雪崩击穿占优。
基于工作机制,PN 二极管衍生出齐纳二极管(低击穿电压,低于 5 伏)、雪崩二极管(高击穿电压,高于 5 伏)。不过,工程师常统称其为齐纳管,易引混淆。
三、几何形状对击穿电压的影响
结击穿电压除受掺杂特性左右,还深受几何形状影响。前文探讨平面结情境,实际多曲面结,曲率强化电场,削减击穿电压,曲率半径越小,击穿电压越低。肖特基二极管因金属 - 硅交界面边缘断层,电场强化显著降低击穿电压,需特定手段弱化肖特基势垒边缘电场。
图 2 呈现 PN 结、肖特基、齐纳二极管电路图符号,箭头指示正向偏置电流方向,齐纳二极管虽箭头方向易引误导,但其常处反向偏置态。


图 2 PN 结、肖特基、齐纳二极管电路图符号
四、齐纳二极管应用误区及原则
在齐纳二极管应用中,初学者易陷入误区,总结如下:
理想化特性认知偏差 :低压齐纳管实际曲线欠理想,不能仅凭标称值臆想其性能。
保护应用关键要素忽视 :利用齐纳管做保护时,需考量漏电流、确保截止电压余量、关注导通状态电压变化,且各要素相互牵制,需权衡取舍。
动态内阻及反应迟钝性不明 :齐纳管动态内阻致电压随电流变,反应存在延迟,结电容亦影响其高频响应。
据此总结应用原则:
低压齐纳管应用需谨慎,尽量规避。
作保护器件时,合理选取 UZ,保障 UWMAX+UM(UM>0)。
设计秉持 “动态” 理念,顾及电路反应迟缓性。
遵循墨菲定律,预留充足设计冗余。
五、稳压管典型稳压电路解析
如下图,

D1 为稳压二极管,与负载 R2 并联,R1 为限流电阻。电网电压升高,Vin 上升,Vout 升高苗头显现,D1 电流剧增,I 增大,R1 压降增大,抵消 Vout 升高;电网电压降低,Vin 下滑,Vout 下降趋势出现,D1 电流骤减,I 减小,R1 压降减小,抵消 Vin 下降。负载电流增加,R1 压降上升,Vout 下降,D1 电流锐减,R1 压降回降,Vout 稳定。稳压管主导电流调节,限流电阻负责电压调整,稳压管动态电阻越小、限流电阻越大,输出电压越稳。
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